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產(chǎn)品資料
WK6550B精密阻抗測(cè)試儀50MHz
產(chǎn)品型號(hào):1J6550B
產(chǎn)品展商:
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

WK6550B精密阻抗測(cè)試儀50MHz 簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手 電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案 30 ms超高速測(cè)試速度 等效Rdc ,量測(cè)到0.01mΩ 0.05%基本**度 可內(nèi)建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能 20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時(shí)升級(jí) ,*高升級(jí)到120MHz 直覺(jué)的用戶操作接口,

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●產(chǎn)品特色

1.簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手

2.電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案

3.30 ms超高速測(cè)試速度

4.等效Rdc可高度精準(zhǔn)四線式測(cè)試,量測(cè)到0.01mΩ

5.0.05%基本**度

6.可內(nèi)建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias

7.可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能

8.20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時(shí)升級(jí) ,*高升級(jí)到120MHz

9.直覺(jué)的用戶操作接口,USB、LAN、GPIB及HANDLER

10.可使用鼠標(biāo)及鍵盤(pán)操控,也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲(chǔ)存數(shù)據(jù)

11.具等效電路仿真功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái)


準(zhǔn)確快速的進(jìn)行元件測(cè)試,±0.05%基本**度。

精準(zhǔn)和多功能性使WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動(dòng)元件設(shè)計(jì)師,電介體、絕緣體的設(shè)計(jì)測(cè)試人員,及生產(chǎn)線的測(cè)試人員。

工程師需要在高頻率的狀況下以極高的精度來(lái)定義元件的特性,WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測(cè)試工具。

●測(cè)試參數(shù)

電容(C),電感(L),電阻(R),電導(dǎo)(G),電納(B),電抗(X),損耗因數(shù)(D),品質(zhì)因數(shù)(Q),阻抗(Z),導(dǎo)納(Y),相位角(θ)、介電常數(shù)(ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、Dε相對(duì)介電損耗)、磁導(dǎo)率(μ ′ ??相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r相對(duì)磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對(duì)磁導(dǎo)率損耗)

●高精度量測(cè)

電容C,電感L及阻抗Z基本**度為±0.05%。損耗因數(shù)D**度為±0.0005及品質(zhì)因數(shù)Q**度為±0.05%。

●元件圖形掃描

WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率,高精度的量測(cè)。該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據(jù)頻率、電壓值和直流偏流源同時(shí)在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。

單測(cè)某一頻率時(shí)可以從曲線掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)LCR表讀值模式。

  


●可變的輸出和偏壓源

交流輸出可選高達(dá)1V或20mA,實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來(lái)評(píng)估元件。可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.

●外部控制

在品管或制作檔譜的過(guò)程中可通過(guò)GPIB介面來(lái)控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測(cè)試環(huán)境.

●多選擇的介面

VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī),這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無(wú)法衡量的價(jià)值.本機(jī)還可通過(guò)外接鍵盤(pán)和滑鼠來(lái)操控,任何PS2或USB鍵盤(pán)和滑鼠都能簡(jiǎn)單的接插到系統(tǒng)中,提供控制和操作儀器的另一種可行方式.

●資料儲(chǔ)存和提取

所有的測(cè)試結(jié)果及設(shè)制都可以通過(guò)網(wǎng)路介面或USB閃盤(pán)來(lái)儲(chǔ)存.

●分類處理介面

Bin Handler為可選設(shè)制,通過(guò)25相D型接頭提供獨(dú)立(24V)和非獨(dú)立(5V)的信號(hào).

●印表機(jī)輸出

測(cè)試結(jié)果可通過(guò)幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機(jī), EPSON相匹配的文字印表機(jī)或直接通過(guò)儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.

●待測(cè)元件連接

可通過(guò)面板的BNC接頭來(lái)實(shí)現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測(cè)試需要.

●充電電容保護(hù)

高精密的測(cè)試儀器可能在使用過(guò)程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來(lái)避免這種情況發(fā)生.

●綜合,**的高頻測(cè)試

“綜合,**的高頻測(cè)試”使該系列產(chǎn)品是高要求測(cè)試的優(yōu)良選擇.




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